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王岚; 刘雅言;
中国科学院长春应用化学研究所;
多晶硅; 薄膜; 杂质分布; 剖面分析; 电阻率;
机译:杂质分布对多晶硅锭晶体结构和电性能的影响
机译:多晶硅中晶体缺陷类型对电性能及与杂质相互作用的影响
机译:从低频噪声测量确定多晶硅薄膜晶体管的界面状态分布:在电性能分析中的应用
机译:非均匀性对多晶硅硅薄膜(多晶硅,晶界,分布函数,掺杂曲线,TEM)中电阻率建模的影响。
机译:通过水下激光退火结晶成多晶硅薄膜并同时灭活电缺陷
机译:晶界突出对低温多晶硅薄膜晶体管电性能的影响
机译:晶界对多晶硅薄膜电性能的影响。进展报告,1980-1981
机译:使用对气体敏感的半导体层测定气体中的化学杂质涉及影响与吸附或吸收的材料有关的层的电性能
机译:用相同的方法制造多晶硅硅层的方法和制造具有高电性能的薄膜晶体管的方法
机译:制造多晶硅薄膜以改善电性能的方法和装置
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