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flash芯片SMT焊点抗高g值冲击性能分析

     

摘要

电子产品中电路板与芯片之间的焊点尺寸越来越小,在机械震动冲击过程中,焊点连接处是最容易被损坏的部位,为了研究机械震动冲击时SMT焊点抗高g(重力加速度约为10 m/s2)值冲击性能,利用霍普金森杆(Hop-kinson bar)激光干涉仪对两片未灌封的动态参数测试的核心存储flash芯片的SMT焊点进行了抗高g值冲击性能试验.结果表明,flash芯片SMT焊点在无多次冲击情况下,可以抗高达1.3 ×105g的冲击加速度,在累积冲击情况下,SMT焊点的抗冲击加速度幅值能力迅速减弱.

著录项

  • 来源
    《焊接学报》|2015年第6期|44-46,51|共4页
  • 作者单位

    中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原030051;

    中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原030051;

    苏州大学机电工程学院,苏州215021;

    中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原030051;

    中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原030051;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 疲劳强度问题;
  • 关键词

    焊点; 芯片; 高冲击; 未灌封; 1.3×105g;

  • 入库时间 2023-07-25 13:51:15

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