焊点
焊点的相关文献在1989年到2023年内共计2997篇,主要集中在无线电电子学、电信技术、金属学与金属工艺、公路运输
等领域,其中期刊论文513篇、会议论文29篇、专利文献2455篇;相关期刊218种,包括焊接技术、焊接学报、家电维修等;
相关会议19种,包括第九届国防科技工业生产制造工艺技术创新研讨会、2015中国高端SMT学术会议、第十七届全国钎焊及特种连接技术交流会等;焊点的相关文献由5931位作者贡献,包括黄春跃、郭福、马立民等。
焊点
-研究学者
- 黄春跃
- 郭福
- 马立民
- 王春青
- 汉晶
- 孔令超
- 赵宁
- 赵胜军
- 高超
- 何智成
- 唐香琼
- 路良坤
- 成艾国
- 王乙舒
- 蔡念
- 刘威
- 田艳红
- 付玉祥
- 余学清
- 冯当
- 周炜
- 孙炼飞
- 孙锋峰
- 孟洲
- 晋学轮
- 杨仕桐
- 沈福青
- 王晗
- 贾强
- 不公告发明人
- 何小琦
- 安荣
- 李望云
- 刘伟
- 史建卫
- 张春红
- 杨栋华
- 黄明亮
- 冉藤
- 周双锋
- 张国旗
- 恩云飞
- 李斌
- 杜飞
- 秦红波
- 陈颖
- 马海涛
- 黄家强
- 何伟
- 姚宗湘
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熊祥玉
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摘要:
大多数表面安装IC焊盘设计时,只要知道IC引脚的间距值(中心距)就可以方便地确定PCB焊盘的宽度值,但对于CSP器件焊盘设计不能简单地用上述规律来进行,其原因是CSP器件的球间距一样,但焊球(I/O端)的大小也可能不一样,因此,PCB的焊盘设计不仅要考虑焊球间距,也必须考虑焊球的尺寸。
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邓智超;
颜润明;
杨蕙同;
陈浩林;
赖锦祥;
雷亮
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摘要:
基于卷积神经网络的单视图检测不能有效识别三维形状的缺陷目标,导致在实际应用中,往往是通过只检测某一最具代表性的视图或者依次检测每个面来实现低精度的检测要求,这带来了较大的时间成本和使用限制.针对这一问题,提出了改进的残差网络(Res Net),并将其应用于三维形状的焊点缺陷检测.该模型首先会一次性获取焊点的所有视图图像,再通过特征聚合和自适应学习模块,最终获得检测结果.多视图焊点数据集来自高频电感元件,在所提出方法的识别精度达到了99.48%.结果表明,改进的残差网络在同等网络层数的情况下有效提升了图像识别精度;对比单视图检测,多视图检测结构仅以较少的时间代价获得了较大的精度提升,能有效完成实际工业生产中的三维形状缺陷目标的检测任务.
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刘祥平
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摘要:
例1:一台海信TLM40V86PK型液晶电视,开机后图像、伴音均正常,但遥控不起作用。分析检修:拆开机壳,查看主板(板号:RSAG7.820.1672/ROH),遥控接收小板及其插座所有焊点均无虚焊现象,也未发现明显异常的元件。
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杨林梅;
牟国琬
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摘要:
在电子封装过程中,钎料与基体之间形成金属间化合物层,其主要成分为Cu_(6)Sn_(5),Cu_(6)Sn_(5)晶粒的尺寸和形貌特征能够显著影响焊点的服役性能.采用回流焊的方法制备了一系列Sn3.0Ag0.5Cu/Cu焊点,使用Image-Pro Plus软件对焊接界面化合物Cu_(6)Sn_(5)晶粒的尺寸分布和化合物层的厚度进行了统计分析.结果表明,Cu_(6)Sn_(5)的平均粒径正比于t^(0.38)(t为回流时间),界面化合物层的平均厚度正比于t^(0.32).随着回流时间的增加,界面化合物生长速度变慢,Cu_(6)Sn_(5)晶粒的尺寸分布更加均匀.回流时间较长的样品中Cu_(6)Sn_(5)的粒径尺寸分布与FRD模型的理论曲线基本相符,而对于回流时间短的样品,晶粒尺寸分布与FRD理论偏离较大.统计结果显示,出现频次最高的晶粒尺寸小于平均值.最后讨论了界面Cu_(6)Sn_(5)晶粒的生长机制,分析了回流时间对界面Cu_(6)Sn_(5)晶粒生长方式的影响.
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张扬;
梁翠;
蒙庆根
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摘要:
随着现代汽车技术的发展,客户对于汽车产品个性化的追求日渐强烈,导致白车身的车型不断增加,不同型号、配置共线生产成为现今汽车生产线的一种趋势。而零部件错装、漏装、漏焊成为影响白车身质量的重大因素。文章通过设计一种新型的气动防错装置,防止白车身漏焊、错焊,以保证白车身焊点的质量。
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徐鹏博;
李永强
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摘要:
由于军用电子设备的高可靠性以及列装之前的测试无法完全模拟出真实的服役环境,导致测试结果的参考意义不大。鉴于此,文中将以电子部组件的任务剖面作为基础,在制作环境载荷谱时,参考影响电子部组件寿命的关键因素,将电子元器件及焊点疲劳失效的机理模型作为理论依据。在绘制电子部组件的CAD模型时,进行适当简化,使用ANSYS软件对其进行多载荷耦合作用下的有限元仿真,找出电子元器件的薄弱点,并对关键部位进行寿命预测,为军用电子设备故障的初步诊断及装备延寿分析提供借鉴。
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王文慧;
赵兴科;
王世泽;
赵增磊
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摘要:
球栅阵列(BGA)封装结构组成材料之间线膨胀系数(CTE)的差异,容易造成使用过程中焊点内部热应力产生和累积,成为焊点失效的主要原因之一。针对CTE差异的问题,选用与芯片CTE相近的钨制造BGA焊球,并通过在钨球表面电镀铜改善其钎料润湿性。使用SAC305焊膏制备了钨焊球与铜基板的单焊点试样。采用焊点剪切试验研究了170°C下热老化时间对钨焊球焊点热可靠性的影响。结果表明,焊点剪切强度随老化时长增加而明显下降。与焊态试样相比,经250 h老化处理后,焊点的平均剪切强度由57.9 MPa下降至36.6 MPa。随热老化时间增加,焊点的断裂位置由钎焊金属层转向钨核/铜壳层的界面。经250 h老化处理后,焊点的剪切断裂面出现了铜壳从钨颗粒表面剥落的现象。这意味着加强钨核与铜壳层电镀界面的结合强度有助于提高这种钨焊球焊点的热可靠性。
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兰月;
胡浩;
冯建俊;
王锐;
张劲松;
谭杰
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摘要:
针对汽车行业内焊点检测的难点,提出了采用视觉技术的方法。利用图像识别技术中的特征匹配检测焊点缺失情况,利用图像标定转换的方式实现焊点偏移量超差的判定,最后通过基于ResNets残差网络的深度学习模型对焊点缺陷进行6分类学习,实现缺陷的检出及分类。其中焊点缺失检测成功率达100%,缺陷识别正确率达95%以上。此技术完善了焊点的质量检测,有效地替代了人工抽检的方式,提高了检测效率及检测正确率,实现了焊点全智能化的检测。
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吕克洪;
邱静;
刘冠军
- 《第九届全国振动理论及应用学术会议暨中国振动工程学会成立20周年庆祝大会》
| 2007年
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摘要:
焊点在电子产品的元器件和电路板之间起着机械连接、电气连接的作用,其故障是影响电子产品可靠性的重要因素.文章简要介绍了时间环境应力诱发焊点故障的原理.利用损伤积累、焊点失效物理模型、寿命消耗监控等理论提出了基于时间应力测量和寿命消耗监控的焊点损伤评估方法,并详细介绍了该方法的具体流程和相关技术.最后以某电机控制器电路板焊点中的SOP 封装焊点为研究对象,利用MSC工具建立其有限元模型,进而结合所获得各应力的时间历程,采用所提出的损伤评估方法计算了SOP 焊点的损伤状态,并通过应力试验进行了验证.
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张炜;
成旦红;
郁祖湛;
Wemer Jillek
- 《2007年上海市电子电镀学术年会》
| 2007年
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摘要:
随着印制电路板上电子器件集成密度的不断提高,焊点除了由于散热不好引起的热疲劳等问题外,焊点之间发生的电化学迁移问题越来越为人们所关注,已经成为电子封装领域的一个重大课题.本文通过恒定电压条件下的水滴实验,对PCB上Sn95.5Ag4Cu0.5钎料焊点的电化学迁移行为进行了原位观察和研究.结果表明,树枝状的金属沉积物总是在阴极上生成,其形成需要经过一个孕育期,树枝状沉积物一旦形成,就会迅速地生长到阳极上,造成短路失效;钎料焊点间距的减少和外加电压的增加都会使得电化学迁移造成的短路失效时间显著缩短;外加电压低于1.3V时不发生电化学迁移短路失效;当钎料不能完全包裹焊盘或者焊盘局部位置上钎料的厚度很薄时,发生电化学迁移的金属除了来自钎料焊点,还会来自Cu焊盘;钎科中的Ag不发生迁移.
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张炜;
成旦红;
郁祖湛;
Werner Jillek
- 《2007(第13届)全国电子电镀学术年会暨绿色电子制造技术论坛》
| 2007年
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摘要:
通过恒定电压条件下的水滴实验,对Sn95.5-Ag4-Cu0.5钎料焊点的电化学迁移行为进行了原位观察和研究。结果表明,树枝状的金属沉积物总是在阴极上生成,并向着阳极方向生长,在接触阳极的瞬间,发生短路失效;阴极上树枝状沉积物的形成需要经过一个孕育期,树枝状沉积物一旦形成,就会迅速地生长到阳极上,造成短路失效;外加电压不超过2V时,形成的沉积物数目往往比较少并且粗大;钎料焊点间距的减少和外加电压的增加都会使得电化学迁移造成的短路失效时间显著缩短;当钎料不能完全包裹焊盘或者焊盘局部位置上钎料的厚度很薄时,发生电化学迁移的金属除了来自钎料焊点,还会来自Cu焊盘;钎料中的Ag不发生迁移。
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张杰;
杨平
- 《第八届中国微米/纳米技术学术年会》
| 2006年
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摘要:
本文从动力学角度分析了PBGA组件在高加速度冲击载荷下的响应.采用解析法与有限元分析相结合的方式考察了PBGA组件的结构参数和材料特性等因素对焊点应力的影响,并运用参量分析法比较了这些因素对焊点应力的影响程度.分析结果表明:在冲击载荷下,焊点位置对焊点应力的影响最大,应力峰值出现在PBGA器件的最外端焊点上,而焊点高度、BGA模量以及PCB模量对焊点应力影响较小.增大焊点直径或减小焊点模量均可有效减小焊点的应力,选择适当的PCB厚度也可降低焊点的应力.
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杨颖
- 《2015中国高端SMT学术会议》
| 2015年
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摘要:
某印制板组件(PCBA)完成焊接后发现部分焊点存在上锡不良,通过对其进行外观检查、金相切片及SEM分析、可焊性测试,发现该PCBA上普遍存在的不润湿主要与印制电路板(PCB)焊盘表面存在污染相关,而焊盘表面不良的镀层状况亦劣化了其可焊性,最终导致焊接不良.
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