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黄先进; 凌超; 孙湖; 游小杰;
北京交通大学电气工程学院 北京 100044;
IGBT缺陷与失效; 键合线; 最小二乘法; 杂散参数辨识;
机译:加速老化下IGBT中的模具接头失效的物理:无铅焊料合金中微缺陷的演变
机译:Bi-IGBT:IGBT并联关联的低损耗功率结构
机译:电动机驱动器引起的IGBT模块引起的IGBT模块因功率半导体器件的不均匀阻抗而磨损失效
机译:IGBT模块的封装疲劳失效演变
机译:使用石墨烯复合材料作为热界面材料的IGBT封装的计算分析。
机译:硅通孔封装的电气可靠性判据研究
机译:高分辨率γ射线光谱法用于检测封装快速反应堆燃料芯中包覆层失效的应用。
机译:FRp在面内或三维应力状态下包括剪切非线性的失效模型和判据
机译:检验装置中的非缺陷产品判据设定方法及非缺陷产品判据设定装置
机译:仅通过缺陷来测量失效概率的方法,通过对提取的缺陷图案参数进行分类来测量缺陷受限良率的方法以及仅通过缺陷和缺陷受限良率来度量失效概率的系统
机译:仅通过缺陷来测量失效概率的方法使用分类提取的缺陷图案参数来测量缺陷受限良率的方法以及仅通过缺陷和缺陷受限良率来度量失效可能性的系统
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