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压片-荧光分析法快速测量烧结矿组分

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摘要

采用压片-荧光分析法测量烧结矿组分,对内控样的化学定值和标准样品,绘制出荧光分析曲线,通过压片制样、X射线荧光分析烧结矿中各元素.该方法能够准确地分析出烧结矿成分,提高了工作效率和分析质量,减轻了劳动强度,节约了成本,减少了环境污染.

著录项

来源
《天津冶金》 |2015年第6期|56-58|共3页
作者
靳晓军;
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作者单位

天津天铁冶金集团技术中心,河北涉县056404;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
X射线荧光仪; 内控样; 压片; 烧结矿; 组分;

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