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某电子设备静电放电抗扰度试验问题分析及对策

             

摘要

cqvip:为鉴定设备本身的电磁兼容能力,取得合格资质。某电子设备在具有有鉴定资质的试验平台进行了一系列的电磁兼容试验,但在静电放电抗扰度试验过程中,出现了不符合试验性能判据的现象,本次基于试验中出现的问题,对现象进行分析,并针对问题采取了一系列的静电防护措施。最终通过了试验。可为同类问题作为参考。

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