首页> 中文期刊> 《科技风》 >地质样品检测中X射线荧光光谱法的应用

地质样品检测中X射线荧光光谱法的应用

         

摘要

采取粉末压片法制取试样样品,利用高功率X射线荧光光谱法,对地质样品中的钼、砷、锑、铋、铜五种元素的含量进行检测,提高了分析速度.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号