1200V/30 A SiC MOSFET的结构设计与特性仿真

摘要

4H-SiC金属氧化物半导体场效应管（metal-oxide-semiconductor field-effect transistor,MOSFET）具有开关频率高、功率密度大、耐高温、抗辐照等优点,在军用和民用领域具有广阔的应用前景。针对漏源击穿电压1 200 V的设计目标,利用解析模型和数值仿真相结合的优化方法,通过分析元胞结构参数对器件电学特性的影响,确定4H-Si C MOSFET元胞的纵向与横向结构参数。仿真结果表明,优化设计的器件其特征导通电阻为4.75 m?·cm2,击穿电压为1 517 V,满足设计指标。