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胡才雄;
上海有色金属研究所;
硅; 吸除; 器件性能; 缺陷; 杂质;
机译:系统LSI中各种电源方法的比较(电源控制,DVFS,VLSI电路,设备技术)
机译:系统LSI中各种电源系统的比较(功率控制,DVFS,VLSI电路,设备技术
机译:非晶碳化硅中的缺陷及其与太阳能电池器件性能的关系
机译:半导体中的多尺度建模:从缺陷形成到器件性能
机译:水稻(Oryza sativa L.)种子的砷硅引发可通过调节Lsi-1Lsi-2Lsi-6和营养转运蛋白基因来影响矿质养分吸收和生化响应
机译:由于LSI小型化而应对较低电压和增加器件性能变化的电路技术的研究
机译:硅的缺陷影响器件性能和与晶体生长条件的关系
机译:存储器LSI缺陷的分析装置及存储器LSI的缺陷的分析方法
机译:缺陷的系统LSI,安装在系统LSI上的固件的编译程序以及用于运输系统LSI的运输方法
机译:(将砷和磷共注入用于改善高压NMOS器件性能的扩展漏区中)到用于改善高压NMOS器件性能的扩展漏区中
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