基于BP神经网络的晶体管寿命预测研究

摘要

针对晶体管的寿命预测问题,基于BP神经网络,提出了一种预测模型。该方法采用BP神经网络建立起了以漏电流ICEO为特征参数的剩余寿命预测模型。文章介绍了BP神经网络的寿命预测模型结构及建立的流程,并对建模过程中的关键点进行了分析,结合BT5551晶体管可靠性寿命后的测试数据验证了该方法的有效性。