一类Riemann张量指标表达式的标准型完全分类及其在微分几何中的应用

摘要

本文研究了n维微分几何中Riemann张量指标表达式的标准型完全分类问题,通过引入指标结构图的概念,证明了规范类型单项式都是标准型,并且构成次数不大于5的Sakai类型单项式的正交基底,由此得到Sakai类型单项式的标准型完全分类,这是次数大于3时标准型完全分类问题的第一个结果.同时给出了相应标准化算法,通过比较说明了该算法比现有算法更加简便,最后应用于自动推导和证明微分几何中关于Riemann张量的一些公式.