航天用探测器组件芯片寿命考核方法研究

摘要

cqvip:红外焦平面探测组件是军事侦察、预警卫星等航天遥感仪器的核心组件,其应用环境特殊且出现故障无法修复,这就对航天用探测器组件提出了高可靠、长寿命的实际要求。探测器芯片作为探测器组件的重要组成部分,其工作寿命直接影响探测器组件的工作寿命。本文对航天用探测器组件的工作环境、失效模式进行了分析,找到导致失效的应力,并结合工作剖面,给出寿命考核方法,以供探讨。