基于TI MSP430F169的磁性材料磁滞特性的测量方法

摘要

对磁性材料磁滞特性参数的测量原理做了简单的介绍,针对目前一般磁滞特性测量仪的缺点,提出了基于TI MSP430F169系统芯片实现磁滞特性测量的新方法及其具体实现方案.实验结果表明,该方法大大地改善了仪器的性能.