使用AFM分析印刷对K涂膜结构和性能产生的影响

摘要

@@ K涂膜是使用专用设备在各种薄膜基材上涂布一层或多层聚偏二氯乙烯(PVDC)胶乳,从而得到的具有高阻隔性能的薄膜.借助K涂膜优异的阻隔性能,可大幅度地提高内装物的保质期.但在实际应用中,使用K涂膜包装的蛋糕却出现了未过保质期就变干或发霉的现象,其中K涂膜经过印刷后阻隔性能的下降是造成这个问题的主要因素之一.本文针对这个问题,应用原子力显微镜(Atomic Foroe Microscope,AFM)进行了实验,分析印刷对K涂膜结构和性能所产生的影响.