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掠出射X射线荧光分析

         

摘要

掠出射X射线荧光分析技术是全反射X射线荧光分析技术的延伸和发展,文章介绍了掠出射X射线荧光分析技术的形式、特点、基本原理和作者在实验室搭建的实验装置,简述了掠出射X射线荧光分析技术的发展史,以及该技术在化学元素微量和痕量分析及薄膜特性分析等领域中的应用,展望了这种技术今后的发展前景.

著录项

  • 来源
    《物理》 |2002年第3期|167-170|共4页
  • 作者单位

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室 长春 130022;

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室 长春 130022;

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室 长春 130022;

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室 长春 130022;

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室 长春 130022;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 物理学;
  • 关键词

    掠出射X射线荧光; 荧光分析; 全反射X射线荧光; 痕量分析;

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