纳米粒子粒径的测量研究

摘要

采用X射线衍射法(谢乐法)与透射电子显微镜法(TEM法)对纳米粒子粒径的测量进行了研究。结果表明,该两种方法都可用于纳米粒子粒径的的测量与表征,且两者的测量结果相当一致;纳米粒子实际平均粒径似应在两种方法测定结果之间。