首页> 中文期刊>宁波化工 >基准消光值在微量SiO2浓度检验和控制上的应用

基准消光值在微量SiO2浓度检验和控制上的应用

     

摘要

本文利用现有的微量SiO2的分析方法和双光紫外分光光度计以及计算机的有关特点,提出了基准消光值作为微量SiO2浓度的检验标准。此法在微量SiO2浓度检验和控制上应用之后,结果较为满意。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号