基于StellarisTM系列微控制器的ADC滑动平均过采样技术

涂立; 汪彦

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StellarisTM系列微控制器的部分产品中集成了ADC模块.ADC的硬件分辨率为10位,但由于噪音和其它使精度变小的因素的影响,实际的精度小于10位.本文提供了一个基于软件的过采样技术,从而使转换结果的有效位数(ENOB)得到改善,并描述了对输入信号执行过采样的方法,以及在精度和整个系统性能上的影响.

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来源
《中国新技术新产品》 |2010年第12期|32-33|共2页
作者
涂立; 汪彦;
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作者单位

湖南城市学院计算机科学系,湖南,益阳,413000;

湖南城市学院计算机科学系,湖南,益阳,413000;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类
关键词
有效位数; ADC模块; 过采样;

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