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孙志; 韩柏; 张冬; 宋伟; 何丽娟; 王暄; 雷清泉;
哈尔滨理工大学电气与电子工程学院;
工程电介质及其应用技术教育部重点实验室;
黑龙江省电介质工程重点实验室;
电场力显微镜(EFM); 表面电荷衰减; 耐电晕聚酰亚胺; 肖特基效应;
机译:原始和耐电晕的聚酰亚胺薄膜的导电电流特性和载流子迁移率
机译:基于聚酰亚胺薄膜的耐电晕介电
机译:用静电力显微镜研究原始聚酰亚胺薄膜和耐电晕聚酰亚胺薄膜的表面电荷
机译:对用作多芯片模块介电层的聚酰亚胺薄膜的蚀刻和表面改性特性的研究。
机译:聚酰亚胺薄膜和纤维基材上6.4 nm Au薄膜中的热和电传输特性
机译:铸造溶剂对磺化聚酰亚胺薄膜界面分子结构和质子传输特性的影响
机译:聚酰亚胺薄膜电学和光学特性的变化(及其驱动化学)由于暴露于高能GEO类电子。
机译:耐电晕性树脂组合物,开发该树脂组合物的耐电晕性的方法和耐电晕性构件
机译:耐电晕构件,耐电晕树脂组合物以及用于表达树脂成型品的耐电晕性的方法
机译:耐电晕性树脂组合物,显示该树脂组合物的耐电晕性的方法和耐电晕性构件
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