高频光电导衰减法测试硅单晶少子寿命的精密度分析

摘要

为验证少子寿命是否可做为太阳能级多晶硅级别判定的技术指标,将原生多晶硅区熔为硅单晶后,15家光伏实验室采用高频光电导法测试少子寿命.分别对硅单晶的表面和端面进行测试,分析两者重复性的差异,确定少子寿命取值已表面测试为准.采用Z比分数法对数据进行重复性检验、u值检验法进行准确性分析、 χ2检验法进行再现性分析,最终得出少子寿命可作为多晶判级依据的结论.