Nano Indenter Ⅱ纳米显微力学探针

摘要

Nano Indenter Ⅱ纳米显微力学探针是我室1994年从美国 Nano Instru-ments公司引起的,目前是国内唯一一台。它是一种新型的材料微区力学性能检测系统,它使我们能够得到距材料表面几纳米至几十微米厚或亚微米范围的力学性能。从而使我们对材料微区力学性能的研究成为可能。