不同贮存年限陈皮的太赫兹光谱和成像的差异分析

摘要

本研究利用太赫兹光谱与成像技术及统计分析方法对5种不同贮存年限(3、5、10、15和20年)的陈皮进行了差异性表征和年限鉴别.结果 表明,不同贮存年限陈皮样品的太赫兹光谱信息参数(包括吸收系数、折射率、复介电常数虚部和介质损耗角正切值)和太赫兹频域图像对比度均存在明显的差异和较为一致的变化趋势,3～15年陈皮的各参数值随贮存年限的增加而递减,15～20年陈皮的各参数值随年限增加而渐增;对0.6～1.8 THz范围内的各光谱参数进行统计学分析及独立样本t检验,提取变化规律具有一致性且差异显著(p＜0.05)的光谱参数数据,建立了基于主成分分析-支持向量机(PCA-SVM)的高效陈皮贮存年限预测模型,其年限预测准确度可达94％以上.该结果表明了太赫兹技术在表征不同陈皮差异及鉴定贮存年限上的可行性和优越性.