首页> 中文期刊> 《微电子技术》 >8万门门阵母片系列电路JSC710XX测试技术研究

8万门门阵母片系列电路JSC710XX测试技术研究

         

摘要

利用DIC8032大规模集成电路测试系统,实现了8万门门阵系列电路JSC710XX的功能,参数的测试,并验证了8万门门阵列母片。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号