用PLD实现VXI自动测试系统测试接口设计

摘要

在基于VXI总线自动测试系统中,针对某大型电子装备多种被测组合综合测试问题,采用可编程逻辑器件(PLD)技术实现了灵活性强、可靠性高、成本低廉的VXI总线测试接口的设计,并通过测试信号的动态分配、动态上拉和动态预处理等方法,有效地解决了测试平台对多种复杂被测对象的适配问题.