机译:在自动测试设备中使用数据压缩进行片上系统测试
Department of Electrical and Computer Engineering, Northeastern University, Boston, MA 02115 USA;
Automatic test equipment (ATE); manufacturing test; test compression;
机译:基于拆分数据可变长度(SDV)代码的片上系统测试数据压缩
机译:基于拆分数据可变长度(SDV)代码的片上系统测试数据压缩
机译:基于混合测试向量压缩的片上系统测试
机译:使用ATE进行片上系统测试的数据压缩
机译:使用测试数据压缩和内置的自检功能来减少片上系统集成电路的测试数据量。
机译:使用自动化测试设备获得的单碳和玻璃纤维机械性能大型数据集
机译:使用测试数据压缩和内置自测试的低成本系统级芯片设计测试方法