X射线荧光光谱法测定镍电解液中的镍、氯、硫酸根

摘要

本文利用低功率X射线荧光分析技术(XRF)对电解镍溶液样品进行了研究,重点探讨了影响镍电解液中Ni2+、Cl-、SO42-同时测量的因素,优化了实验条件.实验表明,镍的质量浓度(ρ)在35～110 g/L、氯离子的质量浓度(ρ)在30～90 g/L、硫酸根离子的质量浓度(ρ)在55～160 g/L范围内,待测元素质量浓度与其荧光强度存在着良好的线性关系.将本方法用于镍电解液实际样品分析,测得结果与其它化学分析方法结果相符合,相对标准偏差(RSD,n=11)为0.3％～0.4％.