1J55铁镍合金薄带的织构分析

摘要

通常，晶粒较大的样品无法采用常规X—ray衍射方法进行织构测试分析。针对粗晶薄带材1J55合金样品，利用多片样品的侧面构造一个测试表面，从该组合面测得不完全极图并经过ODF计算和ODF转换计算的方法得到样品的晶粒取向信息，结果表明，这种方法可以较好的解决粗晶薄带材样品的织构测试问题。