低场磁共振对诊断低血糖性脑损害的临床应用

摘要

cqvip:目的探讨低场磁共振颅脑成像对低血糖所致脑损害的诊断价值。方法回顾性分析25例低血糖患者MRI资料，25例患者进行了头部MR扫描．包括常规T1WI、T2、WI和FLAIR扫描。结果25例首次常规T1WI、T2WI中，8例T1WI呈现异常信号，表现为受累部位皮层T1信号减低5例、稍短T1信号2例；10例T2WI见异常信号，均表现为受累部位皮层及皮层下T2信号稍增高且灰白质分界不清。25例首次FLAIR检查中23例出现异常高信号．受累脑区包括双侧枕叶皮层4例、右侧枕叶皮层2例、左侧枕叶皮层及皮层下2例，双侧枕叶皮层及皮层下4例、双侧顶枕叶皮层4例、双侧项枕叶皮层及皮层下5例、胼胝体压部8例、双侧放射冠4例、左侧尾状核及苍白球2例、右侧背侧丘脑2例、双侧内囊后肢2例。8例经过20一60天后复查中，受累枕叶白质明显萎缩4例，枕叶白质内软化灶5例，枕叶皮层见条状稍短T1稍长T2信号3例．双侧大脑半球白质呈弥漫性脱髓鞘改变1例，胼胝体压部T2高信号消失1例，胼胝体压部仍见稍高T2信号1例。结论低血糖脑损伤多发生在双侧顶、枕叶后部脑组织．早期的FLAIR扫描有助于低血糖脑损伤的早期发现和评估。