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何松杰;
无;
电子秤 ; CMOS开关; 开关 ; 故障检测 ;
机译:由于泄漏电流和电荷共享过多而导致的复杂CMOS电路的符号故障分析
机译:0.35- src =“ / images / tex / 26045.gif” alt =“ mumbox {m}”> inline-formula> BiCMOS的低泄漏人体保护模拟开关及其应用低速开关电容器电路中
机译:通过模拟T开关(AT-Switch)和超级截止CMOS(SCCMOS)管理具有低V {sub}(TH)晶体管的基于电荷的模拟电路中的亚阈值泄漏
机译:用于直接转换应用的CMOS Gilbert混频器中由于LO不匹配导致的LO泄漏分析
机译:采用0.18um CMOS技术的开关电容器和开关电流流水线模数转换器的设计。
机译:使用65 nm CMOS技术单片集成的CMOS-NEMS铜开关
机译:使用低泄漏开关电容器电路的28 nm CMOS生物实时神经形态系统
机译:IE Bulletin 85-03的结束:由于开关设置不当导致工厂瞬态过程中电动阀共模故障。
机译:减少由于CMOS和其他集成电路中的注入而导致的硅缺陷引发的故障
机译:内在安全的电磁驱动电路可防止因内部组件故障而导致可燃气体爆炸而导致能量泄漏
机译:在不同稳态开关条件下测量部分耗尽的绝缘体上硅CMOS电路泄漏电流
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