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基于开关级故障模型的CMOS自检比较器特性的研究

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摘要

在以往的电路自检特性研究工作中往往采用逻辑级或版图级故障模型，本文采用了比逻辑级模型完善，比版图级模型实用的开关级故障模型来研究ＣＭＯＳ比较器的自检特性．研究结果表明，只要电路中非码字的错误是同向的，则比较器是强码字不相交的．

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来源
《哈尔滨工业大学学报》 |1994年第1期|33-37|共5页
作者
毛志刚; 叶以正;
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作者单位

不详;

不详;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类测试和检验;
关键词
检测器; 比较器; CMOS电路; 自检特性;

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