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微波元件复反射系数测量数据评估及实现

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摘要

分析了多状态反射计系统的性质,并根据状态圆的位置关系,构建了数据评估参数,以有效评判测量数据和系统性能.同时借助由双魔T和两晶体检波器构建的测试系统,使用计算机进行数据处理,能够快捷地进行实际测试和数据评判.

著录项

来源
《计量技术》|2005年第10期|8-10|共3页
作者
史晓新; 王英玫; 丁国文;
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作者单位

山东建筑工程学院,济南,250101;

山东建筑工程学院,济南,250101;

山东建筑工程学院,济南,250101;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测绘学;
关键词
复反射系数; 晶体检波器; 多状态反射计; 魔T;

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