首页> 外国专利> METHOD FOR DETERMINING complex reflection coefficient of the two-pole microwave

METHOD FOR DETERMINING complex reflection coefficient of the two-pole microwave

机译:测定两极微波的复反射系数的方法

摘要

method u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu0435u043du0438u00a0 integrated coefficient u043eu0442u0440u0430u0436u0435u043du0438u00a0 microwave u0434u0432u0443u0445u043fu043eu043bu044eu0441u043du0438u043au043eu0432,the amount of the incident and reflected waves u0438u0437u043cu0435u0440u00a0u044eu0442 power u043du0430u043fu0440u00a0u0436u0435u043du0438u0439 out measuring circuit by connecting the measuring circuit with device sizes key and, when combined with the measuring circuits and integrated the research u0434u0432u0443u0445u043fu043eu043bu044eu0441u043du0438u043au043eu043c u0432u044bu0447u0438u0441u043bu00a0u044eu0442 u043eu0442u0440u0430u0436u0435u043du0438u00a0 by u0440u0435u0448u0435u043du0438u00a0 system calibration and measures u0435u043bu044cu043du044bu0445 equations u043eu0442u043bu0438u0447u0430u044eu0449u0438u0439u0441u00a0 orderwhat u0438u0437u043cu0435u0440u0438u0442u0435u043bu044cu043du0430u00a0 chain u0440u0430u0437u0434u0435u043bu00a0u0435u0442u0441u00a0 on channel sized to u043fu043eu0434u043au043bu044eu0447u0430u044eu0442u0441u00a0 calibration device, and channel u0438u0437u043cu0435u0440u0435u043du0438u00a0, which u043fu043eu0434u043au043bu044eu0447u0430u0435u0442u0441u00a0 u0438u0437u043cu0435u0440u00a0u0435u043cu044bu0439 dm u0445u043fu043eu043bu044eu0441u043du0438u043a, further u0438u0437u043cu0435u0440u00a0u044eu0442 power amount from the entrance of the incident and reflected waves u0434u0432u0443u0445u043fu043eu043bu044eu0441u043du0438u043au0430 u043du0430u043fu0440u00a0u0436u0435u043du0438u00a0 with different phase shifts.created in the channel calibration and calculation of u043eu0442u0440u0430u0436u0435u043du0438u00a0 integrated by u0440u0435u0448u0435u043du0438u00a0 system calibration equations derived in the u0432u044bu0445u043e de canal u0438u0437u043cu0435u0440u0435u043du0438u00a0 idling regimes and short u0437u0430u043cu044bu043au0430u043du0438u00a0 and system measuring equations derived by connecting to the control channel u0438u0437u043cu0435u0440u00a0u0435u043c wow u0434u0432u0443u0445u043fu043eu043bu044eu0441u043du0438u043au0430 with different phase shifts in the channel calibration.
机译:方法 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u0435 u043d u043d u0438 u00a0积分系数 u043e u0442 u0440 u0430 u0436 u0435 u043d u043d u0438 u00a0微波 u0434 u0432 044 u0445 u043f u043e u043b u044e u0441 u043d u0438 u043a u043e u043e u0432,入射光和反射波的量 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u00a0 u044e u0442功率 u043d u0430 u043f u0440 u00a0 u0436 u0435 u043d u0438 u0439通过将测量电路与设备尺寸键相连来连接测量电路,并且在与测量电路结合使用并集成研究后 u0434 u0432 u0443 u0445 u043f u043e u043b u044e u0441 u043d u0438 u043a u043e u043e u043c u0432 u044b u0447 u0438 u0441 u043b u00a0 u044e u0442 u043e u0442 u0440 u0430 u043 u043d u0438 u00a0通过 u0440 u0435 u0448 u0435 u043d u0438 u00a0系统校准和测量 u0435 u043b u044c u043d u044b u0445方程 u043e u0442 u043b u0438 u0447 u0430 u044e u0449 u0438 u0439 u0441 u00a0订单什么 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u 0438 u0442 u0435 u043b u044c u043d u0430 u00a0链 u0440 u0430 u0437 u0434 u0435 u043b u00a0 u0435 u0442 u0431 u0041 u00a0在大小为 u043f u043e u0434的通道上 u043b u044e u0447 u0430 u044e u0442 u0441 u00a0校准设备和通道 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u0435 u043d u0438 u00a0,其中 u043f u043e u0434 u043a u043b u044e u0447 u0430 u0435 u0442 u0441 u00a0 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u00a0 u0435 u043c u044b u0439 dm u0445 u043f u043e u043b u044e u0438 u043a,进一步为 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u00a0 u044e u0442来自入射波和反射波入口的功率 u0434 u0432 u0443 u0445 u043f u043e u043e u043b u044e u0441 u043d u0438 u043a u0430 u043d u0430 u043f u0440 u00a0 u0436 u0435 u043d u0438 u00a0具有不同的相移,在 u043e u0442 u0440 u0430的通道校准和计算中创建 u0436 u0435 u043d u0438 u00a0由 u0440 u0435 u0448 u0435 u043d u0438 u00a0积分的系统校准方程式e u0432 u044b u0445 u043德运河 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u0435 u043d u0438 u00a0空转状态和简短的 u0437 u0430 u0430 u043c u043b u043b u043a u0430 u043d u043d通过连接到控制通道 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u00a0 u0435 u043c w00 u0434 u0432 u0432 u0443 u0445 u043f u043e u043e u043b u044e u0441 u043d u0438 u043a u0430在通道校准中具有不同的相移。

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号