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光学经纬仪的光学测微器行差检定中应注意的几个问题

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本文通过对仪器光学测微器(带尺显微镜)结构和其行差产生因素的分析以及对行差性质的阐述,说明应根据经纬仪的不同读数特点,适宜地选择行差检定的测量点和测量方法.

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来源
《计量技术》 |2005年第1期|41-43|共3页
作者
张卫东; 王冬梅;
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作者单位

河南省计量科学研究院,郑州,450008;

河南省测绘产品质量监督检验站,郑州,450003;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TH761.1;
关键词
光学经纬仪; 行差; 检定;

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