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高精度光学测微法及其测微装置

摘要

本发明提供一种高精度光学测微法及其测微装置,本发明利用光线在镜面反射原理,把微小的物理变形放大,从而实现微小变形的测量。高精度光学测微计的主要元器件为镜面,在抵抗电磁干扰和耐久性上有其自身的优势,它具有对环境适应能力强和精度高的特点。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-08

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B11/16 申请公布日:20140416 申请日:20131220

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2014-05-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/16 申请日:20131220

    实质审查的生效

  • 2014-04-16

    公开

    公开

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