用高分辨工业X—CT检测陶瓷样品

摘要

清华大学核能技术设计研究院自８０年代中开始到８０年代中的十年来建成了三个微焦点Ｘ－ＣＴ系统。本文介绍了采用闪烁体－光电二级管阵列高分辩探测器的ＣＴ系统硬件结构和图像重建中的“拆线近似法”技术，给出了用该系统检测若干陶瓷样品的结果。