一种细光路偏光调制实现干涉条纹扫描的新方法

摘要

提出了一种新的干涉条纹扫描方法：在细光路中用小尺寸偏光元件调制进行干涉条纹扫描．此方法克服了以往用大面积偏光器件而在参考光路中引入扰动导致仪器稳定性能变差的缺陷．在本文，从理论上进行了推导、计算和误差分析，给出了干涉仪原理结构和实验室装置．实验结果表明：理论计算与实验结果相符合，证明了所提出的方法可行．