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一种测量光具组基点的新方法

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介绍了一种测量光具组基点的新方法.由于采用线阵光电耦合器件(CCD)测量物经光学系统成像的横向放大率,使实验具有精度高、探作简便等优点.

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来源
《延安职业技术学院学报》 |2010年第5期|59-61|共3页
作者
史海青; 刘竹琴;
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作者单位

陕西能源职业技术学院基础部,陕西,咸阳,712000;

延安大学物理与电子信息学院,陕西,延安,716000;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类光具组理论与象差理论;
关键词
光具组; 基点; 横向放大率;

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