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基于LK8810平台的数字芯片性能测试

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摘要

为提高芯片性能可靠性,提出了基于LK8810平台的数字芯片性能的测试方法,并基于LK8810测试机在平台上对典型数字芯片SN74LS08芯片进行系统化测试,对SN74LS08芯片的功能、关键参数进行了测试和研究,通过软硬件联调,结合芯片技术参数标准,提高测试结果的精准性.

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来源
《新乡学院学报（自然科学版）》|2021年第9期|48-5054|共4页
作者
余蓓敏;
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作者单位

安徽电子信息职业技术学院电子工程学院安徽蚌埠 233000;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TP122;
关键词
LK8810平台; SN74LS08; 芯片测试技术;

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