机译:通过基于器件尺寸和阈值电压的电流限制估计来更快地筛选故障数字芯片
机译:采用0.18 / spl mu / m片上系统CMOS技术的多阈值电压和多击穿电压CMOS器件设计点的质子公差
机译:基于电压编程的多通道微芯片电泳的快速高通量筛选谷胱甘肽
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机译:基于迁移率和掺杂物数量波动的模型的比较分析,用于在存在随机陷阱和随机掺杂物的情况下估算45 nm沟道长度MOSFET器件中的阈值电压波动
机译:基于氮化物的局部电荷陷阱非易失性存储器件的阈值电压不稳定性。
机译:宽带隙GaN基HEMT功率器件中取决于高温操作的阈值电压稳定性的模型开发
机译:基于器件尺寸和阈值电压的电流限制估计快速筛选故障数字芯片
机译:基于单元的发射极耦合逻辑的快速片上延迟估计