基于模拟选择开关和故障字典的数字芯片检测系统

摘要

设计了一种基于模拟选择开关和故障字典的数字芯片检测系统,主控芯片采用MSP 430单片机,实现了对常见数字芯片的自动化故障检测,可以检测数字芯片是否存在短路、开路和逻辑功能错误等故障,并可确定具体故障位置.芯片的短路、开路检测基于数字芯片内部的二极管钳位保护电路,通过霍尔电流传感器和ADC进行检测.测量结果显示,该系统的测量准确率高,测量速度快,功耗低,可实现电池供电和手持化.