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壳聚糖溶致液晶临界浓度的脱乙酰度依赖性

         

摘要

壳聚糖是甲壳素的脱乙酰化产物。从另一个角度,甲壳素也可以看成壳聚糖的乙酰化产物。脱乙酰度(DD)或乙酰度(DA)是壳聚糖的重要结构指标,也是影响其溶致液晶性的重要因素之一。Terboievich等[1]比较了DD=58%和85%两种壳聚糖的构象持续长度,发现差别很小。胡钟鸣等[2]研究了DD=71~89%壳聚糖在二氯乙酸的临界浓度,结果都是10~11wt%。这些研究的DA范围都较有限。本文通过制备100%脱乙酰的壳聚糖,再用乙酸酐在室温反应,通过控制摩尔比和反应时间制取了DD=1~100%的十个壳聚糖样品,从而得以研究几乎全DD范围的壳聚糖的液晶临界行为。   DD通过元素分析测定,结果与红外光谱的吸光度比A1560/A2880相联系(见图1)。图1 可用作FTIR法测定壳聚糖脱乙酰度的工作曲线。……

著录项

  • 来源
    《厦门大学学报:自然科学版》 |2000年第z1期|90-91|共2页
  • 作者单位

    厦门大学材料科学与工程系和固体表面物理化学国家重点实验室;

    厦门;

    361005 厦门大学材料科学与工程系和固体表面物理化学国家重点实验室;

    厦门;

    361005 厦门大学材料科学与工程系和固体表面物理化学国家重点实验室;

    厦门;

    361005 厦门大学材料科学与工程系和固体表面物理化学国家重点实验室;

    厦门;

    361005 厦门大学材料科学与工程系和固体表面物理化学国家重点实验室;

    厦门;

    361005;

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  • 正文语种 chi
  • 中图分类 连续性出版物;
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