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王乃龙; 张盛; 周润德;
清华大学微电子学研究所;
北京100084;
大规模集成电路; 电热耦合模拟; 时钟信号完整性; 电迁移可靠性诊断;
机译:通过电热耦合分析校准倒装芯片封装的电迁移可靠性
机译:ILLIADS-T:用于CMOS VLSI芯片温度敏感可靠性诊断的电热时序模拟器
机译:iTEM:使用电热时序仿真的芯片级电迁移可靠性诊断工具
机译:纳米VLSI电路的基于物理的电迁移和时变介电击穿建模以及可靠性分析。
机译:使用贝叶斯分析方法可以纠正电子病历诊断数据中的不完整性吗?利用模拟和现实生活中的临床数据开发一种新方法
机译:晶粒尺寸和覆盖层对Cu互连电迁移可靠性的影响:实验和模拟
机译:电迁移空洞的几何特征(电迁移空洞的统计分析)
机译:基于电迁移模拟的接线故障分析方法
机译:用于在高性能计算体系结构和数据存储设备之间进行数据迁移的系统和方法,具有增强的数据可靠性和完整性
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