Mastersizer2000粒径仪对SiO2粒径分析的影响因素研究

摘要

使用英国马尔文公司的Mastersizer 2000激光粒径仪来考察测量条件对St(o)ber法制得SiO2粒径分布结果的影响.通过改变测量过程中的遮光度、泵速、超声波强度等参数,比较不同测量条件对测量结果的影响.实验结果表明,各种测量条件的变化都会对粒径分布结果产生重要影响,在进行测量时应该仔细地选择各项参数.本体系在测量过程中的遮光度不能高于26%,可行的泵速范围是1 500～3 000 r/min,不需要使用超声波帮助分散.