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取向膜表面方位锚定强度对铁电液晶分子排列的影响

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摘要

计算分析铁电液晶C1和C2排列态的自由能.在取向膜预倾角较低的条件下,当取向膜表面方位锚定强度大于临界值2.1×10-6J/m2时,C2排列态的自由能低于C1排列态,可实现均匀的C2排列态,并进行实验证明.采用摩擦取向方法,制作出了均匀取向的表面稳定模式器件.

著录项

来源
《沈阳理工大学学报》|2009年第1期|34-36,40|共4页
作者
乌日娜; 岱钦; 徐送宁; 姜月秋; 徐志洁;
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作者单位

沈阳理工大学,理学院,辽宁,沈阳,110168;

沈阳理工大学,理学院,辽宁,沈阳,110168;

沈阳理工大学,理学院,辽宁,沈阳,110168;

沈阳理工大学,理学院,辽宁,沈阳,110168;

沈阳理工大学,理学院,辽宁,沈阳,110168;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类类晶态;液晶显示器件;
关键词
铁电液晶; 取向膜; 方位锚定能; C2排列态;

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