InGaAs/InGaAsP/InP SAGM-APD器件设计考虑及I_P—V曲线二级阶梯状扭折

摘要

本文根据雪崩电场和限制隧道电流电场要求出发,设计和估算了InGaAs/InGaAsP/InPSAGM-APD器件参数,测量并解释了I_p-V曲线的二级阶梯扭折行为,指出了V_(th)/V_B以1/3左右为宜和与实际测量的M_p比较吻合的经验公式。