首页> 中文期刊> 《半导体学报》 >热光调谐滤波器的高温性能分析

热光调谐滤波器的高温性能分析

         

摘要

研究了热处理对Si基热光Fabry-Perot(F-P)腔可调谐滤波器的影响,用原子力显微镜分析了高温热退火前后的器件表面变化.发现随着退火温度的升高,器件的透射峰发生蓝移,同时透射峰强度及DBR(distributed Braggreflector)反射率下降.透射峰蓝移是非晶硅和SiO2致密后折射率增大而厚度减小,最终导致DBR中心波长偏短所致;DBR反射率下降和透射峰强度的下降是高温下表面和界面变得起伏较大所致.

著录项

  • 来源
    《半导体学报》 |2005年第z1期|200-203|共4页
  • 作者单位

    中国科学院半导体研究所集成光电子国家重点实验室;

    北京;

    100083 中国科学院半导体研究所集成光电子国家重点实验室;

    北京;

    100083 中国科学院半导体研究所集成光电子国家重点实验室;

    北京;

    100083 中国科学院半导体研究所集成光电子国家重点实验室;

    北京;

    100083 中国科学院半导体研究所集成光电子国家重点实验室;

    北京;

    100083 中国科学院半导体研究所集成光电子国家重点实验室;

    北京;

    100083 中国科学院半导体研究所集成光电子国家重点实验室;

    北京;

    100083;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 滤波技术、滤波器;
  • 关键词

    热光效应; Fabry-Perot; 可调谐滤波器; 热处理;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号