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差值取样谱函数定理及其在研究MOS陷阱弛豫效应方面的应用

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本文利用Rolle定理证明了一个差值取样谱函数定理.阐明了,只要陷阱弛豫原函数满足这个定理的必要条件,则其差值取样转换函数——弛豫谱函数就一定具有谱峰特征.这个定理也为差分取样谱技术提供了相应的数学模型。给出了几个例证.

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来源
《半导体学报》 |1992年第1期|63-64|共3页
作者
许铭真; 谭长华; 王阳元;
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作者单位

北京大学微电子学研究所;

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正文语种 chi
中图分类 O472.4;
关键词
电参数; 差值取样; MOS; 弛豫效应;

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