基于自适应遗传算法的LS-SVM漏磁缺陷重构

摘要

提出基于自适应遗传算法的最小二乘支持向量机算法(AGA-LS-SVM)的新方法,用于二维缺陷重构,建立由缺陷的漏磁信号到缺陷二维轮廓的映射关系.该方法实现人工裂纹缺陷的二维轮廓的重构,试验结果表明,该方法具有速度快、精度高和很好的泛化能力,为漏磁检测定量化提供了一种可行的方法.