硅微条探测器性能的Monte—Carlo模拟

摘要

利用Ｍｏｎｔｅ－Ｃａｒｌｏ计算机模拟技术，对拟用于北京Ｔａｕ－Ｃｈａｒｍ工厂前端探测系统的硅微条控制器的物理性能进行了探讨，并为在我国研制高质量的硅微条探测器的可行性取得了一些初步的实验依据。