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多芯片组件电磁干扰频谱中的两次峰值问题研究

     

摘要

前先采用Thevenin端接方法对多芯片组件(MCM)电路进行阻抗匹配,然后通过建立等效电路仿真模型,研究其电磁干扰频谱中的两次峰值问题.模拟结果表明,第一个峰值频率随负载电容和寄生电容的增大而减小;第二个峰值频率随负载电容和电阻的增大而减小;两个峰值高度分别随负载电容的增大而增大或减小,且当负载阻抗接近传输线特性阻抗时,两个峰值高度均有所下降.仿真结果与MCM 中两种瞬态电流引起的电磁干扰分析结果一致.

著录项

  • 来源
    《兰州大学学报(自然科学版)》|2007年第2期|80-83|共4页
  • 作者

    徐如清; 畅艺峰; 杨银堂;

  • 作者单位

    西安电子科技大学,微电子所,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,陕西,西安,710071;

    中国电子科技集团预研部,北京,100846;

    西安电子科技大学,微电子所,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,陕西,西安,710071;

    西安电子科技大学,微电子所,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,陕西,西安,710071;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 互连及多层布线技术;
  • 关键词

    多芯片组件; Thevenin端接; 仿真;

  • 入库时间 2023-07-25 18:04:07

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